5月14日，集成电路制造与分析技术领域全球著名专家、X射线无损检测技术与设备专家，德国国家科学与工程院院士、欧洲科学院院士Ehrenfried Zschech教授在南京九龙湖校区电子信息大楼报告厅成功举办《X-ray microscopy – High-resolution, three-dimensional and nondestructive》主题讲座活动，东南大学党委常务副书记刘攀颁发荣誉证书，国际合作处副处长王晨、集成电路学院党委副书记兼副院长顾青瑶出席活动。
本次讲座活动由集成电路学院和国际合作处主办，此系列讲座也是集成电路学院芯太湖学术讲座之一，讲座由集成电路学院李晗教授主持。讲座从X射线成像的基础知识出发，重点介绍nano-XCT纳米计算断层扫描系统结构，及三维无损超高分辨率成像原理。
图1 Ehrenfried Zschech教授主题讲座
讲座结束后，东南大学党委常务副书记刘攀为Ehrenfried Zschech教授颁发了荣誉证书并合影留念。刘攀对Ehrenfried教授的到来表示欢迎与感谢，他说，Ehrenfried教授的演讲不仅展示了卓越的科学水平，还重新诠释了这项技术如何能够推进可持续能源系统、信息技术以及全球材料创新等方面的革新。
图2 东南大学党委常务副书记刘攀为Ehrenfried Zschech教授颁发荣誉证书
审核：顾青瑶